24bit磁编码器KTM5900深度解析：分辨率≠精度，如何挑战光编？

1. 这颗"24bit磁编码器"到底是怎么来的

拿到KTM5900的规格书，第一眼看到“24bit绝对角度”的时候，我确实愣了一下。干这行的都知道，磁编码器主流市场还在16bit到18bit之间打转，AS5047P这种老将凭借14bit的分辨率就能通吃一大片应用，突然冒出来一个24bit，正常人第一反应肯定是“吹牛的吧”。

但把规格书从头到尾翻完之后，我发现这个24bit和我们通常理解的“物理分辨率”并不是一回事。简单来说，它不是磁电转换单元直接输出的原始精度，而是经过内部高倍细分插值之后得到的位置数据。你可以把它理解为：ADC采样出的原始波形是粗刻度，DSP在波形内部通过算法插入更细的刻度，最终对外报出24bit的角度值。这种思路在光编上早就用烂了——海德汉几万线的高端光栅，靠的也不是把码盘刻到几万条线，而是对正弦/余弦信号做电子细分。

所以KTM5900的逻辑跟高端光编是同构的：磁阻传感器输出两路正交的正弦/余弦信号，信号调理电路放大、整形之后，由内部DSP进行反正切运算和高倍内插，最终把角度量化到24bit。这里最核心的问题就来了——内插出来的分辨率，不等于精度。

这个区别我在实际项目里栽过跟头。以前用一颗16bit的磁编做机械臂关节角度反馈，规格书标称分辨率0.005°，但实测重复定位精度只能做到0.03°左右。道理不复杂：分辨率只是你能分辨的最小步进，精度则取决于传感器本身的噪声、温度漂移、安装偏心、磁场非正弦度等一系列误差源的总和。KTM5900标称0.01°的噪声，实际上描述的是短期重复性，而不是绝对精度。如果把它当成“绝对精度0.01°”来用，那后面一定会出问题。

那这个24bit到底有没有意义？有，但要分场景。如果你的应用是低速精密转台、需要高重复定位精度的视觉对位平台，那高分辨率加上低噪声确实能提升系统的平滑性和重复性。但如果你做的是高速主轴的角度反馈，24bit的高分辨率在高速旋转下反而会产生大量数据带宽压力，SPI或SSI接口的时钟频率会变成瓶颈。所以先搞清楚“分辨率”“噪声”“精度”三者的差异，再来谈替代光编的事。

2. 磁编和光编的战争，从来不是分辨率一个维度

2.1 光编凭什么占据高端市场这么多年

光编的优势在于“物理上的直接性”。光栅码盘上的刻线是物理存在的，光电探测器读到的就是真实的位置信号——没有中间转换环节，没有磁滞，也没有因为温度变化导致的磁场漂移。高精度光编能做到±1角秒甚至更高，这决定了它在半导体设备、天文望远镜、精密机床这些对绝对精度有极高要求的领域是不可替代的。

但光编的缺点同样明显。首先是贵，高精度光编的价格通常是同等级磁编的三到五倍起步。其次是对环境敏感，油污、粉尘、水汽都会影响光路的透过率，密封做得不好的话，现场故障率会直线上升。还有一个工程上非常头疼的问题——安装要求苛刻。光编的码盘与读数头之间的间隙、平行度、同心度都有严格公差，装配稍微偏一点，精度就跟不上设计值了。

我在一个自动化产线项目里用过多套进口光编，其中一次因为客户现场的金属粉尘太大，两个月内连续烧了三套读数头。从那之后我对光编的“娇贵”就深有体会：实验室里精度再漂亮，下到车间里该挂还是挂。

2.2 磁编的看家本领是鲁棒性，不是精度

磁编码器的核心优势，一句话就能讲完：磁场是穿透性的，不需要“看见”。灰尘、油污、冷凝水、轻微的机械偏差，都不会让磁场信号中断。磁编可以在开放环境下直接裸露使用，防护等级做起来比光编省心得多。这也是为什么伺服电机、机器人关节、汽车转向系统这些工况恶劣、振动大的场景，磁编几乎是唯一解。

磁编的软肋也很明确。温度对永磁体磁通密度的影响是物理性的，钕铁硼磁钢的温度系数大约是-0.12%/°C，意味着温度升高50°C，磁场强度掉6%。磁场弱了，传感器信噪比就下降，角度数据的稳定性自然打折扣。再加上磁阻传感器本身也有温漂，所以磁编想要对抗光编，必须在温漂补偿和信号调理上做文章。

KTM5900在规格书里花了大量篇幅讲温漂补偿和信号校正，这其实就是在回应磁编最大的历史短板。它内部集成了温度传感器，能实时对磁场强度变化做补偿；同时还内置了自动增益控制和幅值/相位校正算法，用来修正磁阻传感器因装配偏差导致的非正交误差。这些都是磁编向高端光编发起冲击的“必要不充分条件”——能做这些说明厂家有心做高端，但做得好不好，得看实测数据。

2.3 24bit磁编的定位：填补“中高端”真空区

把磁编和光编放到同一个坐标系里看，你会发现市场上存在一个明显的定位真空：低端光编和高端磁编之间，从性能到价格都有一段不小的空白。低端光编受限于码盘刻线数和安装公差，精度的上限很有限，但价格比磁编贵不少；高端磁编则在鲁棒性上远超光编，但精度一直差口气。

KTM5900这个级别的产品，瞄准的正是这个真空区。对伺服驱动器厂家来说，选用一颗具备高分辨率、低噪声、同时保持磁编鲁棒性的传感器，意味着可以在不牺牲环境适应性的前提下，把伺服电机的低速平稳性和重复定位精度提到一个可观的档位。对终端设备厂来说，这意味着在某些原本不得不选光编的场景，现在有了一个成本更低、更耐造的备选方案。至于“完全替代光编”——我只能说，通用自动化设备里能替代的场合确实越来越多，但那种追求极限精度的光学级应用，磁编暂时还够不着。

3. 0.01°噪声是什么水平，又是怎么做到的

3.1 数字层面先拆解一下0.01°

先把数字摆出来：一圈360°，0.01°对应的角度分辨率是360/0.01=36000份。换算成bit，log2(36000)约等于15.1bit。也就是说，所谓“噪声0.01°”，实际上对应的有效位数大约是15bit。

这就很有画面感了。KTM5900对外报24bit的角度值，但其中的噪声水平在15bit左右，说明真正有效的信号是15bit，剩下的bit位基本是稳定度堪忧的抖动数据。这不是KTM5900独有的问题，所有做高倍细分插值的传感器都一样——输出位数可以标得很高，但信号质量决定你能真正用到多少bit。

那0.01°的噪声在工程上算好还是不好？横向对比一下。AS5047P标称的噪声典型值大约是0.018°rms左右，实际测试中配合良好的磁路设计能做到0.03°以内的抖动。KTM5900如果确实能做到0.01°的峰峰值或者rms噪声，那在磁编里确实是顶级水平。但要提醒一句，规格书上标“0.01°”时必须看清是rms还是峰峰值，两者差距大约四到六倍。我见过的不少规格书都爱玩这个文字游戏，用rms值标噪声，看着数字很漂亮，实际示波器上测出来的峰峰值抖动大得多。

3.2 低噪声实现路径：从传感器前端到算法后端

磁编码器的噪声来源主要有三个：传感器本身的电子噪声、磁铁充磁不均匀引入的磁场波动、以及ADC量化噪声。KTM5900要达到0.01°级别的噪声，必须在三条线同时下功夫。

第一条线是前端磁阻传感器阵列。传统的磁编通常用两个正交的磁阻传感器分别输出正弦和余弦信号，KTM5900这一类高端方案会使用惠斯通电桥结构的传感器阵列，通过差分输出来抵消共模噪声。差分结构的好处是电源纹波、温漂这些共模干扰能被大幅抑制，信号质量会有质的提升。

第二条线是ADC的采样位数和采样率。要对正弦/余弦信号做高倍细分，ADC至少得保证14bit以上的有效位数。KTM5900内部的采样架构规格书没有细说，但从24bit的输出位数来看，内部做多级级联采样和高精度数字滤波是跑不了的。这里有个工程常识值得记住：ADC位数并不是越高越好，如果前端信号噪声本身就有5mV，你拿24bit ADC去采样，低几个bit位全部是无效乱跳，纯属浪费。

第三条线是算法后处理。规格书里提到了内部集成的自校准算法，这是低噪声的关键。磁编在安装好之后，磁铁的偏心、倾斜、充磁不均是客观存在的系统误差，如果不做校正，这些误差会直接叠加到角度输出上。KTM5900的做法是上电初始化时执行一次全周校准，记录误差曲线并在运行时实时补偿。这个思路跟光编的“自校准”功能异曲同工，但磁编因为信号模型简单，校准算法更容易做深做透。

3.3 我实测磁编噪声的经验：单一指标不可尽信

写到这里，分享一下我踩过的坑。以前测一颗磁编的噪声，规格书写的是0.03°，我做了一个固定夹具让磁铁静止不动，然后用逻辑分析仪抓SPI输出的角度数据。结果发现单次采样的抖动远大于0.03°，但如果把数据做16次平均，抖动就降到规格书标称值附近了。

后来我特意翻了几家磁编厂家的应用笔记，发现他们标噪声的做法五花八门，有的标原始数据标准偏差，有的标滑动平均之后的偏差，还有的直接标“低通滤波后”。所以拿到KTM5900或者其他任何一颗磁编，我的建议是别只看规格书那一行数字，必须按自己的应用场景实测一遍。如果伺服环路的电流环频率到16kHz，那你实际关心的不是静止噪声，而是16kHz带宽内对噪声的敏感程度——因为角度噪声会直接折算成速度噪声，再放大成转矩波动，最后变成电机异响和震动。

4. 从AS5047P到MT6701，再看KTM5900的定位逻辑

4.1 主流磁编的“军备竞赛”现状

这两年磁编码器市场卷得很厉害。奥地利微电子(AMS)的AS5047P是14bit，IME的MT6701做到了14bit而且集成了ABZ和UVW输出，价格还打到了个位数人民币，直接把磁编的门槛拉到了一个新低。网上大量“用STM32F103C8T6 HAL库模拟I2C读取MT6701”的教程，说明这款芯片已经在DIY圈子里彻底普及了。

我在一个低成本云台项目里用过MT6701，说实话，它的性价比高得离谱。I2C接口读出来的角度数据在静止状态下抖动大约0.02°到0.03°，对于云台、舵机这种应用完全够用，而且芯片价格便宜、外围电路简单，一颗芯片加一个径向磁铁就完事。但它的局限性也很明显：内部没有做温度补偿和自校准，温度漂移比较大，磁场安装偏差需要用户自己在软件里校准，而且14bit的分辨率在要求低速平稳的应用里还是差了点火候。

KTM5900的出现，更像是磁编阵营向“高端应用”发起的一次正面进攻。它的目标不是跟MT6701抢低端市场，而是去抢原本属于中端光编的蛋糕。这一点从命名逻辑、规格指标到目标场景都能看得出来——24bit的分辨率、0.01°噪声、内置自校准，这完全是冲着精密伺服和高端自动化设备去的。

4.2 从平价芯片升级到KTM5900，工程上要多花哪些心思

如果说你用惯了MT6701这种“上电就读、读出来就用”的芯片，那换到KTM5900这个级别的产品，有几个工程习惯必须改变。

第一个是供电和参考电压的精度。高分辨率磁编对参考电压的稳定性极其敏感，电源纹波稍微大一点，角度数据的低位就开始乱跳。设计上需要把模拟电源和数字电源分开，最好加一个低噪声LDO给传感器供电，PCB布局时也要特别注意地平面的完整性。

第二个是磁铁的选型和安装。低端磁编对磁铁的规格不太敏感，随便一个径向充磁的磁环就能跑。但到了24bit这个级别，磁铁的充磁不均匀度直接决定了你能达到的实际精度。理论上讲，如果磁铁本身波形失真1%，那么18bit以上的数据位都会受影响。所以要么选用高精度充磁的磁铁，要么依靠KTM5900的自校准功能把系统误差修掉。

第三个是通信接口的带宽规划。24bit的角度数据，如果通过SPI以10MHz时钟读取，每帧读取时间在3微秒左右。如果控制环路要跑16kHz，那一帧数据必须在62微秒内完成传输，SPI接口没问题。但如果用SSI同步串行接口，需要根据数据位和时钟频率重新估算最坏情况下的传输时间，尤其是在长距离传输时还要考虑总线延迟。别拿到芯片就闷头画板子，先把接口带宽和环路周期算清楚。

4.3 选型对照：什么场景该用什么级别的磁编

这个表格不是绝对的，但它代表了我选型时的一般思考路径。KTM5900适合的是中间两档往上走的场景，再往上，磁编在物理原理上就很难和光编硬碰硬了。做工程不是搞军备竞赛，不是说分辨率越高就一定越好，而是要找到性能、成本、可靠性三个约束下的最优解。

5. KTM5900规格书逐项拆解：哪些参数能信，哪些要打问号

5.1 分辨率、精度与重复性的关系

规格书首页通常会把这三个参数写在一起，但很多人会忽略它们之间的细微差别。分辨率是输出数据的最小步进，KTM5900是24bit，理论上对应360°/2^24≈0.0000215°，这个数字非常夸张，但不要被迷惑，它只代表数据传输的最小刻度，不代表角度真能测到这么准。

重复性是同一位置多次测量的离散程度，KTM5900的0.01°噪声描述的就是这个维度。它是系统实际能达到的最重要的动态指标，因为它直接决定了低速伺服运行的平稳性。精度则是指测量值与真实角度之间的偏差，受安装偏心、磁铁波形失真、温度漂移等系统误差影响，实际能达到的水平通常远差于重复性。

我的经验是，看待这三个参数时要跳过绝对值，关注相对关系。如果规格书的精度只比噪声大两三倍，那说明厂家把系统误差修得不错；如果精度比噪声大一个数量级，那说明系统误差没有充分补偿，你要仔细评估应用能不能接受。

5.2 接口与时序规格需要重点核对的细节

温度范围、供电电压、输出格式这些常规参数大家都看得懂，但有几个容易被忽略的细节我建议重点关注。

第一个是SSI接口的格雷码与二进制码切换方式。很多磁编支持通过引脚或寄存器配置输出格式，如果配置错了，上位机读出来的角度会在特定位置跳变，而且跳变量很大，非常难排查。我在项目上就遇过一次，前后查了两天才发现是数据格式配置问题。

第二个是ABZ输出的Z脉冲宽度和位置。在伺服电机做换向或归零时，Z脉冲的宽窄决定了系统捕捉零位的精度。KTM5900规格书里如果标了“Z脉冲宽度可编程”，那是加分项；如果Z脉冲位置相对电机极对数有特定对齐关系，也要看清楚。

第三个是EEPROM里保存的校准参数能否在运行时更新。磁编在整机装配完成后，通常位置会有微小的偏差，这时如果能在设备初始化时写一次零点偏移并保存在芯片内部EEPROM里，对生产装配会友好很多。KTM5900如果支持在线校准写EEPROM，那产线上的调试效率会明显提升。

5.3 温度漂移数据是磁编规格书里最容易被忽视的一页

很多工程师选型时只盯着分辨率和精度，温度漂移那一页几乎没人仔细看。对光编来说，温漂主要影响码盘热膨胀和读数头间隙变化，量级比较小；对磁编来说，磁铁本身的剩磁随温度变化，这个物理特性是无法绕开的。

钕铁硼磁钢的温度系数约-0.12%/°C，从25°C升到85°C，磁场强度衰减7.2%。如果不做补偿，这7.2%的磁场衰减会被芯片误读为角度偏移或幅值变化，最终造成严重的角度误差。KTM5900如果标称“带内置温漂补偿”，那实际温漂可能控制在可接受范围内；如果没标，那你在高温场景下就要很小心了。

我做电机测试时有个习惯：拿到磁编的第一件事不是测精度，而是把传感器放进恒温箱，从-20°C到85°C扫一遍温度，记录零位漂移。这个数据比常温精度更能反映芯片的真实水平。KTM5900如果在规格书上给出了完整的温漂曲线和补偿策略，那至少说明厂家是认真做过可靠性验证的。

6. 实操向：我用ST官方工具链快速评估KTM5900的方案

6.1 拿到样片后的第一步：搭最小测试板

也许你现在没有KTM5900的样片，但评估这类高端磁编的流程值得提前熟悉。我通常的做法是直接画一块最小的转接板，把传感器周围的电容、电阻按规格书推荐值放好，留出SPI或SSI接口的测试点，然后接到ST的NUCLEO开发板上。为什么用ST的开发板？因为STM32的生态最成熟，HAL库对SPI从机通信的支持很完善，网上资料多，遇到问题容易搜到解决方案。

硬件接线上有几个细节要特别注意。一是传感器和MCU之间的地线要尽量短粗，避免形成地环路引入噪声；二是SPI的SCK频率不要一上来就拉到最高，先从1MHz开始，确认通信稳定后再往上提；三是SSI接口如果用的是差分管脚，要注意终端匹配电阻的阻值，不匹配会产生振铃，导致数据位误判。

这段纯属经验之谈——我以前用逻辑分析仪抓SSI波形时，发现数据低位和真实角度对不上，折腾了很久，最后确认是终端电阻没加，波形上升沿过冲太严重。评估阶段慢一点、稳一点，后面量产阶段才能快起来。

6.2 角度读取与连续采样代码参考

下面这段代码，是我在评估类似磁编时用来做连续角度采样和抖动统计的模板。它做的事情很朴素：通过SPI读取三轴角度数据，连续采样N次，然后计算均值、标准差和最大偏差，用来评估传感器的噪声水平。

#include "main.h" SPI_HandleTypeDef hspi1; #define SAMPLE_COUNT 1000 static uint32_t raw_angle; /* 通过SPI读取24bit角度数据 */ uint32_t read_angle_24bit(void) { uint8_t buf[3] = {0, 0, 0}; uint32_t angle = 0; HAL_GPIO_WritePin(SPI_CS_GPIO_Port, SPI_CS_Pin, GPIO_PIN_RESET); HAL_SPI_Receive(&hspi1, buf, 3, 100); HAL_GPIO_WritePin(SPI_CS_GPIO_Port, SPI_CS_Pin, GPIO_PIN_SET); angle = ((uint32_t)buf[0] << 16) | ((uint32_t)buf[1] << 8) | buf[2]; return angle; } /* 连续采样并统计波动 */ void noise_statistics(void) { uint64_t sum = 0; uint64_t sum_sq = 0; uint32_t min_val = 0xFFFFFFFF; uint32_t max_val = 0; uint32_t val[SAMPLE_COUNT]; for (int i = 0; i < SAMPLE_COUNT; i++) { val[i] = read_angle_24bit(); sum += val[i]; sum_sq += (uint64_t)val[i] * val[i]; if (val[i] < min_val) min_val = val[i]; if (val[i] > max_val) max_val = val[i]; HAL_Delay(1); } double mean = (double)sum / SAMPLE_COUNT; double variance = (double)sum_sq / SAMPLE_COUNT - mean * mean; printf("mean=%.2f LSB, stdev=%.2f LSB, max-min=%u LSB\r\n", mean, sqrt(variance), max_val - min_val); }

读出来之后怎么判断噪声水平？假设你在静止状态下测到的标准偏差是20个LSB，那么对应24bit的测量，角度噪声就是20×360/16777216≈0.00043°，这个数字远低于规格书标称的0.01°。但这时候别高兴太早——静止噪声好不代表动态性能好。你还需要做转动实验，以恒速旋转磁铁，记录角度数据随时间的变化曲线，观察有没有周期性的波动。波动的频率和幅度能帮你识别出安装偏心、磁铁波形失真等系统误差。

6.3 静态标定的实战流程参考

无论是做标准产品还是非标设备，磁编上机后做一次静态标定是非常值得投入的。我用过的方法不复杂：把装有磁编的转轴固定到一个高精度分度台上，设置从0°开始每10°一个点，转一整圈共36个点。每个点采集100次角度数据取平均，形成一个角度误差补偿表。后续运行时，MCU读取KTM5900的原始角度后，做一次查表插值，就能把系统误差修掉大半。

这个方法比单纯依赖芯片内置校准更直观，也更符合产线流程——分度台的精度决定了标定的上限，一般0.01°精度的分度台就够用了。需要注意的是，查表补偿需要MCU额外算力和存储空间，对低价MCU来说可能有点吃紧。而且标定表只对当前安装状态有效，如果电机拆装过一次，就必须重新标定。这也是为什么KTM5900这类芯片如果内置了完善的校准流程，能为产线省下不少时间。

7. 常见问题与排查技巧实录：磁编调试避坑指南

7.1 角度数据跳变与误码率问题

磁编调试过程中最让人头疼的现象就是角度数据偶发跳变。一种是单点跳变，某一帧数据突然偏离前后几帧几十甚至上百个LSB，然后马上恢复正常。另一种是持续跳变，角度值在一个小范围内来回抖动。

单点跳变大概率是通信问题。SPI通信时如果SCK线上有干扰毛刺，或者片选信号时序不满足规格书要求，就会导致某个bit采样错误。排查方法很简单：一是缩短SPI走线长度，二是在SCK和MOSI/MISO线上串33Ω到100Ω的匹配电阻，三是检查片选信号的建立和保持时间。如果这几点都做了还有跳变，可以试着降低SCK频率，看现象是否消失。

持续跳变则大概率是传感器前端问题。检查磁铁和传感器的间距是否在规格书推荐范围内，磁铁是否垂直对中，以及周围有没有强磁场干扰源。电机内部如果有大电流母线，通电瞬间产生的强磁场会直接干扰磁编的角度读取，这时需要考虑在传感器周围加磁屏蔽罩，或者把磁编放到远离线圈的位置。

7.2 上电零点漂移和掉电保存值的处理

磁编的绝对角度是通过磁铁磁场方向来确定的，理论上掉电再上电，角度值不会丢失。但在实际项目中，我遇到过不少上电后零点漂移的问题，尤其是系统在断电时磁铁停留在某个特定角度区间的情况更为严重。

排查方向有三个方面。第一，检查磁铁是否在断电瞬间被外部机械力推动过，导致上电后磁场方向与断电前不一致。第二，检查KTM5900这类芯片的上电启动时间——上电瞬间磁场还没有完全稳定，芯片读出的角度可能和实际位置有偏差，需要MCU等待一段时间后再开始读取。第三，如果芯片带EEPROM零点存储功能，确认一下零点偏移是否被正确写入和加载。

还有一个很常见的坑：调试时用手转动转轴，断电后不小心又碰了一下，上电后角度值就和断电前对不上了。这不是芯片的问题，是机械位置确实变了。碰到这种情况，先别怀疑传感器，用万用表或示波器确认一下机械位置是否真的没变，再去查芯片配置。

7.3 与电机驱动器配合时的接口时序坑

磁编在伺服系统里通常要输出ABZ信号给驱动器做位置闭环。KTM5900如果支持ABZ输出，就要特别注意Z脉冲与电机极对数的对齐关系——伺服电机换向需要知道转子电角度，而电角度与机械角度的对应关系取决于电机极对数。如果Z脉冲的位置没有和电机的某一相电感对齐，电机启动时就会出现电流冲击或抖动。

我的建议是：在系统联调之前，先用一个简单的通电测试确认ABZ逻辑是否正确。具体做法是给驱动器发送一个很小的电流指令，让电机转到一个固定位置，然后记录Z脉冲出现的机械角度。再手动缓慢转动电机，确认ABZ的计数方向和脉冲数与规格书一致。这个测试只要十分钟，但能为后面省下几天的排查时间。

8. 关于替代光编，我的结论和实际建议

回到标题那个问题：磁编到底能不能干光编的活？我的回答是：分活。在通用自动化、机器人大关节、伺服电机、精密转台这些“中高端”应用场景里，KTM5900这个级别的磁编确实具备了替代部分光编方案的潜力——分辨率够高、噪声够低、还保留了磁编耐环境的本性。但是在半导体光刻、天文观测、超精密测量这类对绝对精度有极端要求的领域，磁编物理机制上的精度天花板就摆在那里，这时候光编仍然是唯一解。

如果你正在做选型评估，我给你三条建议。第一，别被24bit的数字迷惑，把注意力放在“有效分辨率”上，也就是噪声对应的bit数，KTM5900大约在15bit左右。第二，一定要求样片实测，重点测温度漂移和动态噪声，不要只看规格书常温静态数据。第三，认真核算总成本——磁编芯片本身可能比光编便宜，但如果你需要外接高精度磁铁、做多点温度补偿、写额外的误差校准逻辑，这些隐性成本加起来可能就抵消了硬件上的价格优势了。

最后说一个我自己的习惯：任何新传感器的评估，我都会先在实验室平台上跑满一周的连续温度循环和长时间通电老化，看角度数据的稳定性趋势。规格书是厂家给的理论承诺，实际表现只能靠自己的测试来确认。KTM5900这颗料到底值不值得用，最终答案不在它的宣传页上，而在你的测试报告里。