news 2026/5/12 5:49:39

多芯片模块JTAG测试:DS33R11双BSDL协同方案解析

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张小明

前端开发工程师

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多芯片模块JTAG测试:DS33R11双BSDL协同方案解析

1. DS33R11多芯片模块JTAG测试挑战解析

在通信设备硬件制造领域,JTAG边界扫描测试是确保产品质量的关键环节。DS33R11作为集成了DS33Z11和DS2155两颗独立芯片的多芯片模块(MCM),其测试复杂度远超常规单芯片器件。传统JTAG测试依赖单个BSDL文件描述器件引脚逻辑,但面对MCM架构时,这种单一映射关系会导致测试盲区——因为两颗芯片的边界扫描链在物理封装内部是独立运行的。

关键问题:当测试系统通过TAP(测试访问端口)发送扫描指令时,单BSDL文件无法区分哪些引脚属于DS33Z11的扫描链,哪些属于DS2155的扫描链。这会导致测试向量无法正确加载到目标芯片。

通过分析DS33R11的BGA封装结构(如图1所示),可以发现三类引脚连接方式:

  • 独占型引脚(表1/表2):仅连接单一芯片内部电路
  • 共享型引脚(表3):同时接入两颗芯片的I/O端口
  • 电源/地引脚:提供供电和参考电平

这种混合连接方式使得标准JTAG测试流程必须进行两项关键改造:

  1. 网表重构:将物理器件U01拆分为逻辑器件U01_D1(DS33Z11)和U01_D2(DS2155)
  2. 双BSDL协同:分别加载两颗芯片的BSDL文件,建立完整的边界扫描链模型

2. 网表改造技术细节与实操步骤

2.1 原始网表预处理

首先需要从EDA工具导出Concise Net List格式的网表文件。以Cadence设计环境为例,通过以下命令生成待处理文件:

netlist -c -l -f ds33r11_board.cnl

导出的网表中,DS33R11器件通常表现为如下形式:

NET A10 U01.A10 U02.B15 NET A12 U01.A12 R17.1 ...

其中U01即DS33R11的参考标识符。需要特别注意网表头部的格式声明和尾部的结束标记,这些信息在后续编辑中必须保留原貌。

2.2 引脚分类映射

根据官方提供的三张引脚对照表(表1-3),需执行以下分类操作:

  1. 独占引脚处理

    • DS33Z11专属引脚(如A7/JTCLK1)保留原始连接关系,仅将U01改为U01_D1
    • DS2155专属引脚(如A1/RCHBLK)改为U01_D2前缀
  2. 共享引脚复制: 对表3中的22个共享引脚(如A10/INT),需要创建完全相同的两份网表条目:

    NET A10 U01_D1.A10 U02.B15 # DS33Z11路径 NET A10 U01_D2.A10 U02.B15 # DS2155路径

    这种"一物二用"的处理方式正是MCM测试的核心技巧。

2.3 Excel辅助处理技巧

对于大型设计,推荐使用Excel进行高效编辑:

  1. 将网表导入Excel(使用"数据→分列"功能)
  2. 添加辅助列标注引脚类型:
    =IF(ISNUMBER(MATCH(B2,Table1!A:A,0)),"D1", IF(ISNUMBER(MATCH(B2,Table2!A:A,0)),"D2","Shared"))
  3. 使用筛选功能批量修改参考标识符
  4. 导出时确保维持原始分隔符格式

重要提示:修改后的网表必须通过DRC检查,特别要验证共享引脚的两个副本是否完全一致。我曾遇到因Excel科学计数法导致A10被误转为A1.0E+1的案例,导致后续测试失败。

3. BSDL文件协同测试方案

3.1 双BSDL加载机制

完成网表改造后,需要配置JTAG测试系统(如Teradyne或Keysight方案)支持双器件模型:

  1. 在测试工程中同时导入:
    • DS33Z11.bsdl(映射到U01_D1)
    • DS2155.bsdl(映射到U01_D2)
  2. 设置扫描链顺序:
    TAP→U01_D1→U01_D2→...→其他器件
  3. 配置引脚冲突处理策略为"共享模式"

3.2 测试向量生成要点

由于两颗芯片可能同时驱动共享引脚,需要特别注意测试向量的相位控制:

  1. 分时测试:在DS33Z11扫描阶段,将DS2155设为BYPASS模式
  2. 冲突检测:添加对共享引脚的竞争监测代码
    STATE IDLE; SIR 8 TDI (01) TDO (00); // DS2155进入BYPASS SDR 32 TDI (00000000) TDO (xxxxxxxx);
  3. 电源引脚验证:虽然PSDL不属于BSDL范畴,但建议添加对VDD1.8/VDD3的连通性测试

4. 典型问题排查实录

4.1 引脚映射错误

现象:测试报告显示A12引脚连续报错,但物理测量正常
分析:检查发现网表中将A12错误归类为DS2155独占引脚(实际应为共享)
解决:修正引脚类型声明,重新生成测试向量

4.2 BSDL版本不匹配

现象:IDCODE校验失败
根因:使用DS33Z11 Rev1.2的BSDL文件,但实际硬件为Rev1.3
方案:从官网下载最新BSDL文件,确认以下字段匹配:

attribute IDCODE_REGISTER of DS33Z11 : entity is "00001011000010101000100010010011";

4.3 共享引脚冲突

现象:INT引脚测试结果不稳定
调试:用逻辑分析仪捕获发现两颗芯片同时驱动该线
对策:在测试向量中添加以下控制序列:

SIR 8 TDI (02) TDO (00); // 禁止DS2155输出 SDR 32 TDI (00000001) TDO (xxxxxxxx); // 使能DS33Z11测试

5. 工程实践建议

  1. 版本控制策略

    • 将改造后的网表标记为"DS33R11_JTAG"版本
    • 在README中详细记录修改点和参考表编号
    • 建议使用Git管理版本变更
  2. 自动化校验脚本: 开发Python脚本自动验证网表完整性:

    def check_shared_pins(netlist): shared_pins = load_csv('table3.csv') for pin in shared_pins: if netlist.count(f'NET {pin} U01_D') != 2: raise Exception(f"Shared pin {pin} missing!")
  3. 测试覆盖率优化

    • 对共享引脚执行双向测试(分别作为输入/输出)
    • 添加相邻引脚短路测试项
    • 建议覆盖率目标:≥98%的互连测试覆盖率

在实际工程中,这套方法已成功应用于多个T1/E1通信设备项目,平均测试时间从传统飞针测试的45分钟缩短至JTAG扫描的3分钟。最关键的是发现了多个PCB厂商的焊接缺陷——包括两个BGA焊球桥接和一组电源引脚虚焊,这些都是在系统级测试中极难定位的隐蔽故障。

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